Hlavní stránka > Výsledky hledání: keywords:"amorfní polovodiče"
Hledej:
Tipy pro vyhledávaní :: Rozšířené hledání
Hledej ve sbírkách:
Seřadit podle: Zobrazit výsledky: Výstupní formát:
Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 2 záznamů.  Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
Silicon solar cells: methods for experimental study and evaluation of material parameters in advanced structures
 Holovský, Jakub ; Vaněček, Milan (vedoucí práce) ; Sládek, Petr (oponent) ; Hlídek, Pavel (oponent)
Tato práce se zabývá vývojem fotoelektrických charakterizačních metod pro potřeby výzkumu v oblasti tenkovrstvých solárních článků na bázi křemíku. Abychom získali relevantní výsledky je nutné aplikovat fotovodivostní spektroskopii a měření voltampérových křivek, přímo na reálné struktury, které však mohou být mnohovrstvé, vícepřechodové a s nanostrukturovanými rozhraními. Jak analytické tak numerické optické modely jsou použity pro studium absorpce světla a výpočet absorpčního koeficientu křemíkových vrstev v oblasti pod absorpční hranou. Podle sklonu absorpční hrany a absorpce na dně zakázaného pásu pak lze posuzovat uspořádanost a množství poruch v materiálu. Na základě studia elektrické interakce dvou částí dvoupřechodového solárního článku byly vyvinuty metody pro měření fotovodivostních spekter a voltampérových křivek přímo těchto jednotlivých částí bez nutnosti jejich přímého kontaktování. Použitelnost Fourierovské fotovodivostní spektroskopie jakožto robustní metody pro měření fotovodivosti amorfního křemíku je zde podrobně analyzována. Detailně je řešena otázka frekvenční závislosti a je provedeno srovnání s fototermální deflekční spektroskopií.
Úplný záznam
Silicon solar cells: methods for experimental study and evaluation of material parameters in advanced structures
 Holovský, Jakub ; Vaněček, Milan (vedoucí práce) ; Sládek, Petr (oponent) ; Hlídek, Pavel (oponent)
Tato práce se zabývá vývojem fotoelektrických charakterizačních metod pro potřeby výzkumu v oblasti tenkovrstvých solárních článků na bázi křemíku. Abychom získali relevantní výsledky je nutné aplikovat fotovodivostní spektroskopii a měření voltampérových křivek, přímo na reálné struktury, které však mohou být mnohovrstvé, vícepřechodové a s nanostrukturovanými rozhraními. Jak analytické tak numerické optické modely jsou použity pro studium absorpce světla a výpočet absorpčního koeficientu křemíkových vrstev v oblasti pod absorpční hranou. Podle sklonu absorpční hrany a absorpce na dně zakázaného pásu pak lze posuzovat uspořádanost a množství poruch v materiálu. Na základě studia elektrické interakce dvou částí dvoupřechodového solárního článku byly vyvinuty metody pro měření fotovodivostních spekter a voltampérových křivek přímo těchto jednotlivých částí bez nutnosti jejich přímého kontaktování. Použitelnost Fourierovské fotovodivostní spektroskopie jakožto robustní metody pro měření fotovodivosti amorfního křemíku je zde podrobně analyzována. Detailně je řešena otázka frekvenční závislosti a je provedeno srovnání s fototermální deflekční spektroskopií.
Úplný záznam

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.
Digitální repozitář :: Hledej :: Nový záznam :: Personalizace :: Nápověda
Powered by Invenio v1.1.2
Spravuje admin.invenio@techlib.cz
Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky  English